- Détermination des structures par diffraction des rayons X (DRX)
- Analyse de la morphologie de surface par microscopie électronique à balayage et de la composition élémentaire par EDS
- Etudes par microscopie électronique en transmission (MET) de la morphologie, de la structure cristallographique (SAED / microdiffraction) et des compositions élémentaire (EDS) et chimique (EELS) à l’échelle atomique
- Mesure des propriétés optiques par spectrométrie IR/Visible
- Détermination des propriétés électriques à température ambiante et à températures variables
- Spectrométrie Raman